液態(tài)金屬的結(jié)晶是以樹枝狀生長方式進(jìn)行的，樹枝間的液態(tài)金屬*后會凝固，但樹枝間很難被金屬液體全部填滿，這就造成了鑄件普遍存在的不致密性。另外，液態(tài)金屬在冷卻凝固中體積會收縮，如果得不到及時、足夠的補(bǔ)充，也可形成疏松或縮孔。

（3）表面粗糙，形狀復(fù)雜

鑄件是一次澆鑄成型的，形狀往往比較復(fù)雜且不規(guī)則，表面常常難以加工。

（4）缺陷的種類和形狀復(fù)雜

鑄件中主要的缺陷類型有：孔洞類缺陷（包括縮孔、縮松、疏松、氣孔等）、裂紋冷隔類缺陷（冷裂、熱裂、白點、冷隔和熱處理裂紋）、夾雜類缺陷以及成分類缺陷（如偏析）等。由于應(yīng)力的原因，裂紋多出現(xiàn)于冷卻速度快、幾何形狀復(fù)雜、截面尺寸變化大的鑄件中，是具有危險性的缺陷。

鑄件中的組織不致密和不均勻，以及晶粒粗大，都會使超聲波產(chǎn)生嚴(yán)重的散射，被探頭接收后，在熒光屏上將顯示為較強(qiáng)的草狀雜波信號；粗糙的鑄造表面對聲波的散射也會形成雜波信號；另外，鑄件形狀復(fù)雜，也非常容易產(chǎn)生外輪廓反射回波以及遲到回波。這些干擾信號可能會妨礙缺陷信號的識別。

（3）缺陷檢測要求較低

鑄件中一般允許存在的缺陷尺寸較大，數(shù)量較多，特別是工藝的檢測，有的只要求檢出危險性的缺陷，以便修補(bǔ)處理。

對于厚度較大，表面較光滑的鑄件，可采用縱波直探頭，通過觀察一次底面回波之前是否出現(xiàn)缺陷信號進(jìn)行檢測。如需要檢測裂紋，或由于形狀和缺陷取向原因無法采用縱波檢測的部位，可采用斜探頭檢測。要檢測近表面缺陷，可采用雙晶探頭。

（2）二次缺陷反射波法

對于厚度不大，表面較粗糙的鑄件，可采用縱波直探頭檢測，通過觀察一次底面和二次底面回波之間是否出現(xiàn)缺陷信號進(jìn)行判斷。

（3）多次回波法

對于厚度減薄，材質(zhì)均勻，檢測面與底面平行的鑄件，可采用縱波直探頭，通過底面多次回波法檢測

（4）分層檢測法

厚度特大的鑄件，如果用缺陷回波法檢測，通常檢測靈敏度需按*大厚度調(diào)整，這就使得儀器增益必須設(shè)置的很大，根據(jù)超聲波的衰減特性，這樣勢必造成靠近表面位置的信號幅度過高，散射引起的雜波信號幅度也過高。如果該部位存在缺陷，則缺陷信號將混于雜波信號中，無法分辨。因此對于厚度特別大的鑄件，一般采用分層法檢測，即檢測時將鑄件厚度分為若干層，每一層分別采用該層的深度調(diào)整靈敏度進(jìn)行檢測。對于近表面層，由于該層厚度小，聲衰減較小，需要的儀器增益相對較低，雜波幅度也相應(yīng)下降，采用一般全厚度檢測的缺陷回波法無法分辨的缺陷，此時有可能被觀測到。這樣既滿足了深層缺陷檢測靈敏度要求，也解決了較小厚度部位的缺陷檢測問題。可見，分層檢測法是解決鑄件檢測時雜波干擾的一種有效措施。

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在實際檢測時，利用儀器的距離幅度補(bǔ)償（DAC）功能，不分層檢測，也可達(dá)到與分層檢測同樣的效果。

縱波直探頭檢測常用ZGZ系列平底孔對比試塊。試塊材質(zhì)與被檢鑄鋼件相似，不允許存在φ2mm平底孔缺陷。試塊平底孔直徑d分別為φ3、φ4、φ6等三種。平底孔聲程l為25、50、75、100、150、200六種。試塊用于測試距離—波幅曲線和調(diào)整檢測靈敏度。

（3）檢測表面和耦合劑

鑄鋼件表面粗糙，耦合條件差，檢測前應(yīng)對其表面進(jìn)行打磨清理，要求粗糙度Ra不大于12.5μm。

鑄鋼件檢測時，常用黏度大的耦合劑，如漿糊、黃油、甘油、水玻璃等。           （4）透聲性測試

鑄鋼件晶粒較粗，組織不致密，對聲波吸收和散射嚴(yán)重，透聲性差，對檢測結(jié)果影響較大。一般檢測前要測試其透聲性。鑄鋼件透聲性可用縱波直探頭測試。將探頭對準(zhǔn)工件底面，用衰減器測出底波B1與B2的dB差即可。為了減少測試誤差，一般測三點取平均值。測得的dB值越大，說明透聲性越差。

探頭按選定的方式進(jìn)行掃查，相鄰兩次掃查重迭15%，探頭移動速度≤150mm/s。掃查中根據(jù)缺陷波高和底波降低情況來判別工件內(nèi)部是否存在缺陷。以下幾種情況要作為缺陷記錄。